einzelpartikelanalyse

Einzelpartikelanalyse

 

Die hochauflösende Feldemissionselektronenmikroskopie (HREM) kann zur Bestimmung der Größe, der Morphologie sowie der Formparameter einzelner Rußpartikel mittels Bildverarbeitung verwendet werden. Auch die fraktale Dimension lässt sich aus zweidimensionalen Sekundärelektronen-(SE)-Bildern bestimmen. Für Haupt- und Nebenelemente können auch Elementanalysen vorgenommen werden.